| Détermination de la profondeur des défauts épais par Thermographie de phase pulse (TPP) |
| Doctorat |
| Clemente Ibarra-Castanedo |
| Xavier Maldague (Directeur) |
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| Problème: En dernières années, plusieurs méthodes d'inversion par TPP ont été proposées : méthodes statistiques, réseaux de neurones et transformée par ondelettes, avec un éventail d'exactitudes rapportées. Cependant, les étapes de calibrage impliquées et les procédures de calcul assez longues, empêchent leur utilisation dans la plupart des applications d'Évaluation non-destructive (ÉND). |
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| Approche: Nous proposons une nouvelle approche basée sur des calculs de contraste absolu de phase, défini d'une manière semblable au contraste absolu température, pour estimer la profondeur des défauts épais (des trous à fond plat dans des plaques). Les données de contraste de phase sont employées pour estimer la fréquence limite, c.-à-d. la fréquence à laquelle le défaut devient visible pour 'la première fois'. La fréquence limite est alors corrélée à la profonduer correspondante. |
| Défis: Le recouvrement du spectre a un impact important sur la phase des images. Les inévitables différences entre les transformées de Fourier continue et discrète d'un signal thermique dépendant du temps, peuvent être efficacement réduites au minimum non seulement en choisissant une fréquence d'échantillonnage fs, en accord avec le théorème du prélèvement de Shannon, mais également en sélectionnant une taille appropriée pour la fenêtre de troncature w(t). La sélection des paramètres d'acquisition, fs et w(t), doit tenir compte des propriétés thermiques du spécimen inspecté. |
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| Résultats attendus: Un excellent accord entre la profondeur z de défaut, et la fréquence limite correspondante a été observé sur des spécimens en Plexiglas® et en aluminium. Ce qui démontre le potentiel de la technique pour l'estimation de la profondeur dans le cas des trous à fond plat. Pour la continuation de la recherche, des nouvelles expériences devront être effectuées sur différents matériaux, pour le développement des corrélations à partir des paramètres adimensionnels. |
| Calendrier: septembre 2001 - août 2005 |
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| Dernière modification: 2007/10/01 par ibarrac |
